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      產(chǎn)品列表PROUCTS LIST
      新聞動(dòng)態(tài)NEWS
      產(chǎn)品中心Products 當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 無損檢測(cè)儀器 > 涂層測(cè)厚儀 > 涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

      產(chǎn)品名稱:涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

      產(chǎn)品型號(hào):

      更新時(shí)間:2025-02-16

      產(chǎn)品特點(diǎn):涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
      可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

      涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100的詳細(xì)資料:

      涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100


      德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點(diǎn):

      MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
      所有型號(hào)均可配所有探頭;
      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
      可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

      德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司 技術(shù)特征



      型號(hào)

      1100

      2100

      3100

      4100

      MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
      應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

      1

      1

      10

      99

      每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值)


      1

      10

      99

      可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)


      1

      500

      500

      數(shù)據(jù)總量

      1

      10000

      10000

      10000

      MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
      讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar


      讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



      組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar



      組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



      存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)




      分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值



      顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間


      其他功能
      設(shè)置極限值



      連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值



      連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)



      連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值



      德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司 可選探頭參數(shù):

      所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
      F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能


      探頭

      量程

      低端
      分辨率

      誤差

      zui小曲率半徑
      (凸/凹)

      zui小測(cè)量
      區(qū)域直徑

      zui小基
      體厚度

      探頭尺寸



      應(yīng)








      F05

      0-500μm

      0.1μm

      ±(1%±0.7μm)

      1/5mm

      3mm

      0.2mm

      φ15x62mm

      F1.6

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      0.5mm

      φ15x62mm

      F1.6/90

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      平面/6mm

      5mm

      0.5mm

      φ8x8x170mm

      F2/90

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      平面/6mm

      5mm

      0.5mm

      φ8x8x170mm

      F3

      0-3000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      0.5mm

      φ15x62mm

      F10

      0-10mm

      5μm

      ±(1%±10μm)

      5/16mm

      20mm

      1mm

      φ25x46mm

      F20

      0-20mm

      10μm

      ±(1%±10μm)

      10/30mm

      40mm

      2mm

      φ40x66mm

      F50

      0-50mm

      10μm

      ±(3%±50μm)

      50/200mm

      300mm

      2mm

      φ45x70mm






      FN1.6

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62mm

      FN1.6P

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      平面

      30mm

      F0.5mm/N50μm

      φ21x89mm

      FN2

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62mm













      N02

      0-200μm

      0.1μm

      ±(1%±0.5μm)

      1/10mm

      2mm

      50μm

      φ16x70mm

      N.08Cr

      0-80μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      2.5mm

      2mm

      100μm

      φ15x62mm

      N1.6

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      2mm

      50μm

      φ15x62mm

      N1.6/90

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      平面/10mm

      5mm

      50μm

      φ13x13x170mm

      N2

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      50μm

      φ15x62mm

      N2/90

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      平面/10mm

      5mm

      50μm

      φ13x13x170mm

      N10

      0-10mm

      10μm

      ±(1%±25μm)

      25/100mm

      50mm

      50μm

      φ60x50mm

      N20

      0-20mm

      10μm

      ±(1%±50μm)

      25/100mm

      70mm

      50μm

      φ65x75mm

      N100

      0-100mm

      100μm

      ±(1%±0.3mm)

      100mm/平面

      200mm

      50μm

      φ126x155mm

      CN02

      10-200μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      平面

      7mm

      無限制

      φ17x80mm


      F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
      N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

      有關(guān)測(cè)厚儀應(yīng)用的詳細(xì)介紹,超聲波測(cè)厚儀, 涂層測(cè)厚儀



      德國(guó)菲希爾MPO涂層測(cè)厚儀

      德國(guó)fischer FMP20菲希爾涂層測(cè)厚儀

      德國(guó)菲希爾fischer FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀

      FMP10,FMP20,FMP30,FMP40涂層測(cè)厚儀

      愛克特Exacto FN兩用型涂層測(cè)厚儀

      德國(guó)EPK MiniTest 600BFN涂層測(cè)厚儀

      MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀

      麥考特MikroTest 6/G6/F6涂鍍層測(cè)厚儀

      QuaNix 4500,QuaNix 4200涂層測(cè)厚儀

      QuaNix 7500、QNix7500M涂層測(cè)厚儀

      QuaNix 8500涂層測(cè)厚儀

      QNix1500、QuaNix1500M涂層測(cè)厚儀

      PosiTector 200超聲波涂層測(cè)厚儀

      德國(guó)PHYNIX Surfix BFN涂層測(cè)厚儀

      PosiTest DFT Combo涂層測(cè)厚儀

      PosiTector 6000系列涂鍍層測(cè)厚儀

      時(shí)代TT260涂層測(cè)厚儀

      時(shí)代TT210涂層測(cè)厚儀

      時(shí)代TT220涂層測(cè)厚儀

      時(shí)代TT230涂層測(cè)厚儀

      CM-8829S涂層測(cè)厚儀,CM-8828涂層測(cè)厚儀

      CM-8826涂層測(cè)厚儀,ZD-B智能庫(kù)侖測(cè)厚儀,

      ZD-B智能電腦型電解測(cè)厚儀,CM-8825涂層測(cè)厚儀

      CM-8820涂層測(cè)厚儀,CM-8821涂層測(cè)厚儀

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